Nanoscope Analysis(AFM数据离线分析软件)v1.5.0.0官方版

nanoscope analysis是非常不错的AFM离线数据分析软件，如果是一位实验室工作人员，那么一定知道AFM是什么，如果你是不小心点进来的那么小编告诉你，这就是原子力显微镜，是众多现代实验室必备的一个东西。而我们的实验人员，可以将显微镜拍摄下来的图片使用我们的软件打开，然后用户就可以使用nanoscope analysis的各种工具和功能对各种东西进行分析，对于平面状态下无法看清的东西，你还可以生成三维图片进行查看，更清晰更容易看清显微下的各种物质和细菌等等，有需要的小伙伴快快下载体验吧！

Nanoscope Analysis功能介绍

1、分析功能
分析函数关系到分析在实时模式中捕获的图像的表面行为。这些命令称为图像处理或分析命令。这些命令包含用于分析、修改和存储收集到的数据的视图、选项和配置。分析可以是自动化的(也可以是自动程序)或者手工完成。一般来说，分析命令提供了量化样品表面特性的方法
2、二维图像
二维图像分析以二维的角度显示所选图像的颜色编码高度信息。二维图像分析是对纳米范围分析的默认分析，当图像最初被打开时，它总是在二维图像中呈现。
3、轴承的分析
轴承分析提供了一种绘制和分析样品表面高度分布的方法。轴承分析可应用于整个图像，或对图像的选定区域，使用橡胶带箱。此外，选择区域内的区域可以通过使用“停止带”来移除分析中的多余数据。
4、深度
为了分析特征的深度，你有众多的选择来测量不同高度的两个主要特征之间的高度差。深度分析主要是为自动比较两个相似的样本站点的特征深度而设计的(例如，在分析大量相同硅晶片的腐蚀深度时)。

软件亮点

1、表面拓扑图像重建
Nanoscope Analysis可以将从扫描探针显微镜获取的数据转换为高分辨率的表面拓扑图像。这些图像可以显示样品表面的形貌和拓扑结构。
2、原子分辨成像
该软件可以实现原子级分辨率的成像，使研究人员能够观察和分析纳米尺度上的原子排列和表面结构。
3、表面力谱学
Nanoscope Analysis还可以进行表面力谱学分析，通过测量和分析扫描探针显微镜在样品表面施加的力，来研究材料的力学性质和表面力学行为。
4、电学特性分析
该软件还可以用于电学特性的研究，包括电导率、电容和电势分布等相关参数的测量和分析。

九点软件园小编对真实下载地址介绍

1：该下载地址为九点软件园本地下载地址，Nanoscope Analysis最新版下载包预览图如下：

2：下载包的正确包名：nanoscope_9a9m.com.rar

3：九点小编提醒本下载包为夸克网盘下载地址，九点小编亲自上传，上传时间为2025年5月19日，如果失效评论区留意反馈（小编上传的很辛苦喜欢就点个赞吧）